FINDING A SINGLE DEFECTIVE IN BINOMIAL GROUP TESTING
成果类型：
Article
署名作者：
HWANG, FK
署名单位：
AT&T; Nokia Corporation; Nokia Bell Labs
刊物名称：
JOURNAL OF THE AMERICAN STATISTICAL ASSOCIATION
ISSN/ISSBN：
0162-1459
DOI：
10.2307/2285513
发表日期：
1974
页码：
146-150
关键词：